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新品發布 | ZEISS OMNIA GC 220-180:大型部件檢測靈活性與效率的雙重飛躍

來源:蔡司工業質量解決方案 發布時間:2025-12-12 495
金屬加工測量及控制系統 產業動態測量測試
蔡司發布新一代大型部件X射線檢測設備ZEISS OMNIA GC 220-180,采用高精度笛卡爾機械臂,運動速度達15米/分鐘,支持±60°傾角多角度成像,可無碰撞覆蓋復雜鑄件內部結構。

現代制造工藝日趨精密復雜,推動鑄件尺寸向大型化、整體化不斷演進。傳統檢測手段已難以滿足靈活高效的現代化生產需求。蔡司延續BOSELLO系列產品的技術理念,推出新一代大型部件自動化X射線檢測設備ZEISS OMNIA GC 220-180,專為應對未來制造挑戰而設計,致力于為大型乃至超大型組件提供更先進、更可靠的檢測方案。

 

 

專為大型部件檢測設計

ZEISS OMNIA GC專為汽車等行業大型鑄件檢測打造,搭載高品質X射線與精密工程系統,即便面對超大型部件,也能在效率、準確性與成像之間實現完美平衡。其智能設計實現復雜特征掃描全覆蓋,在維持高準確性的同時大幅縮短檢測時間。

 

 

單門或雙門解決方案適配多樣化需求

ZEISS OMNIA GC提供高度靈活的配置方案,精準匹配不同產能需求。單門系統可無縫集成至現有生產線中,適用于中低產能連續任務的在線或線邊檢測場景。產能爬升時,可升級為高產能雙門系統,通過多托盤并行操作,實現裝卸與檢測同步的快速在線自動化解決方案,助力制造商靈活配置資源,高效應對未來挑戰。

 

 

多角度檢測的笛卡爾

坐標軸設計

蔡司X射線檢測系統通過高精度笛卡爾機械臂的平滑的線性運動實現部件關鍵區域的全方位成像,可精準完成傾斜、變焦及定位操作,確保系統能夠觸及復雜鑄件中最具挑戰性的檢測區域。配備±60°檢測傾角的X射線光束及最高15米/分鐘的運動速度,ZEISS OMNIA GC可從任意角度快速、靈活且無碰撞地執行檢測任務。

 

 

 

ADR(自動缺陷識別)

ZEISS OMNIA GC配備先進的ADR(自動缺陷識別)功能,可實現完全自動化的檢測與缺陷評估,可根據ASTM標準對氣孔、夾雜物或裂紋等缺陷進行自動檢測與評估。

 

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